电特性检测报告:KSZ8873MLLI测试

🌊 日期时间：2022-08-19 13:05:27   阅览量：1291 ⭕ 笔者：创芯在线免费查测平台

规格型号 ：KSZ8873MLLI元件品牌标志 ：Microchip元器封裝 ：64-lead LQFP仿品的数量 ：5 片 检查使用量 ：5 片 收样期限 ：2021/08/11 自测年月日 ：2021/08/16 13:30 - 2021/08/16 17:40

测试项目：

电基本特性软件测试、强弱温试验装置

测试方法及测试设备 

1.1 测试标准：

MIL-STD-883L-2019  GJB 128A-1997 

1.2 恒温箱

环保设备尺寸: JW-2001 

1.3 功能测试设备

半导体芯片管特质构造仪 XJ4822： 用示波管表明光电电子电子元器件元器多种性能斜率，并估测其外部参数值，用作估测结晶管，电子元电子电子元器件大家庭中的一员-二极管，MOSFET 和其他的光电电子电子元器件元器。 最大化集电极材料输出电功率高达模型3KV（可选择） 步进电机控制输出电功率±10V +△VB ±5V，的内部电阻器低，特点实用作测试图片大电功率VMOS元器。

1.4 检测环境

生活环境平均温度: 25±5℃ 环保相对应室内湿度: 45%-65%RH

1.5 检测依据

《Microchip KSZ8873MLL》: http://www.semiee.com/file/Microchip/Microchip-KSZ8873.pdf 

电特性测试：

高低温试验： 

测试步骤： 

1、普通测试方法电因素有没有达标率； 2、150 值高温连续部分时，取出来后检查电性能什么情况下达标； 3、-55 度低温制冷的效果移动到1个1小时，存入后考试电的特点会不合格证；

1.芯片描述 

中高级启闭能力 标准化调试寄存器 搭载先期 QoS/CoS 数据报告包 每家串口，802.1p 和来源于 DiffServ 由检验的结合 3 串口 10/100 以太网调换机 启闭监测网能力 低额定功率 

2.封装尺寸

3.来料信息

4.高低温试验

测试步骤： 

1、常温下考试电基本特征可不可以完成；2、150 度就越高温不断地部分时，拿出后测试英文电性是不是合格品； 3、-55 度低溫保持小时左右，弄出来后测验电的特点能不能及格； 不同温校正流程修改相应：

5.电特性测试

数据标淮：GJB 128A-1997运用半导体器件管的特点示意图仪校验基带电子器件管脚电的特点身材曲线，利用断路/烧坏测试仪检验基带电子器件能否损伤。

电特性测试结论：