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已过期介绍

STM32F030CCT6失效分析报告

 ꦐ 准确时间:2022-05-12 11:03:41 网页访问量:1369 做者:创芯上线测量平台

试验結果:外形全面检查其他接受仿品未显示显著的常见问题。电性能指标进行分析源程序查证 F1、F2 和 G1 良品试验采用,F3 原材料源程序器展示 Pin(9,23,24,44)引脚无接触。X-Ray 进行检查任何发了的失灵合格品未有比较明显装封和架构特别。样机 SAT 常规检查介绍以后现:Lead 貌似很大分块的土样:F1,F2,F3. 2.Paddle 貌似很大分块的土样:F1,F2,F3. 3.T-scan 异常的:G1,F1,F2,F3. F3 组织薄片阐述得知 Pin24-VDD 2焊点断路,组织薄片 Pin25-PB12 2焊点中度划痕。现象分折:依据采用端电脑机械故障描叙与与此同时检测数据介绍来说 F3 样品英文电脑机械故障是是因为配件里面引脚分层现象会造成。SAT 查看感觉封装形式内有貌似等级征兆,软件在电脑装机后的表达出异常,致使烧录器烧录核验未的表达异常,研究分析会认为 F1 和 F2 原辅料内部组织或许有轻上下分出层次,上下分出层次后的原辅料经带载烧录安全验证或许诱发共电达不到诱发烧录不好的。改 善 建 议 :小心家里防潮保护性,应该 SMT 悍接不可以上的四次以上的;


的检验范例
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